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Subnano 轮廓仪Subnano 轮廓仪 &﹟8195;&﹟8195;NanoX-2000/3000系列、3D光学干涉轮廓仪建立在移相干涉测量(PSI)、白光垂直扫描干涉测量(VSI)和单色光垂直扫描干涉测量(CSI)等技术的基础上,以其纳米级测量准确度和重复性(稳定性)定量地反映出被测件的表面粗糙度、表面轮廓、台阶高度、关键部位的尺寸及其形貌特征等。广泛应用于集成电路制造、MEMS、航空航天、精密加工、表面工程技术、材料、太阳能电池技术等领域。
&﹟8195;&﹟8195;产品优势
&﹟8195;&﹟8195;美国硅谷研发的核心技术和系统软件
&﹟8195;&﹟8195;关键硬件采用美国、德国、日本等***品牌
&﹟8195;&﹟8195;PI纳米移动平台及控制系统
&﹟8195;&﹟8195;Nikon干涉物镜
&﹟8195;&﹟8195;NI信号控制板和Labview64 控制软件
&﹟8195;&﹟8195;TMC光学隔振台
&﹟8195;&﹟8195;测量准确度重复性达到世界先进水平(中国计量科学***证书)
产品参数:
n 测量模式 移相干涉(PSI),白光垂直扫描干涉(VSI),单色光垂直扫描干涉(CSI)
n 样 品 台 150mm/200mm/300mm样品台(可选配)
XY平移:±25mm/150mm/200mm/300mm,倾斜:±5°
可选手动/电动样品台
n CCD相机像素 标配:1280×960
n 视场范围 560×750um(10×物镜)
具体视场范围取决于所配物镜及CCD相机
n 光学系统 同轴照明无限远干涉成像系统
n 光 源 高效LED
n Z方向聚焦 80mm手动聚焦(可选电动聚焦)
n Z方向扫描范围 精密PZT扫描(可选择高精密机械扫描,拓展达10mm )
n 纵向分辨率 <0.1nm
n RMS重复性* 0.005nm,1σ
n 台阶测量** 准确度 ≤0.75%;重复性 ≤0.1%,1σ
n 横向分辨率 ≥0.35um(100倍物镜)
n 检测速度 ≤ 35um/sec , 与所选的CCD和扫描模式有关
规格: |
套装 |
数量: |
1000 |
包装:标准包装 |
日期: |
2020-04-24 |
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