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探针用cut pin
主要使用于半导体检测用及电路板检测用探针(cut pin), 可根据客户要求加工.
(1) 材料



材料 电阻率 硬度 融点 密度
μΩ·cm Hv ℃ g/mm3
钨 5 680 3410 19.3
铼钨 8 850 3410 19.3
铍铜 12 380 1066 11.8
六元合金 31 350 955 15.9
五元合金 13 300 989 8.36
银钯合金 18 400 1150 10.5 探针卡
银钯合金（H） 12 450 1050 10.5

※上记特性根据加工方法、测定方法、尺寸等会有所变化,以上仅供参考。
(2) 丝径和公差
产品直径 公差
φ0.015~φ0.050mm ±0.002mm
φ0.051~φ0.100mm ±0.003mm
φ0.101~φ0.200mm ±0.004mm
φ0.201~φ1.500mm ±0.005mm
触点探针端部形状
(3) 长度和公差

产品长度 标准公差 特殊公差

3~100mm ±0.2mm ±0.03mm
101~300mm ±0.5mm
301~600mm ±1.0mm
601~2000mm ±5.0mm